知道什(shen)麽(me)是(shi)絕(jue)對(dui)式光柵(zha)尺嗎？
更(geng)新時間：2024-05-09 點擊次(ci)數：4251次(ci)
機(ji)床(chuang)效率(lv)和機(ji)床(chuang)性(xing)能的(de)不(bu)斷提高(gao)將不(bu)可(ke)避免地需要(yao)更快的(de)進給(gei)速(su)度和更高(gao)的(de)加(jia)速(su)度，同時還要(yao)保(bao)持較(jiao)高(gao)的(de)加(jia)工(gong)精(jing)度(du)。為(wei)了快速(su)而準確地傳(chuan)遞進給(gei)運動(dong)，要(yao)求(qiu)機(ji)床(chuang)和線性(xing)光柵(zha)尺具(ju)有更高(gao)的(de)剛度(du)。值光柵(zha)尺的(de)測(ce)量方(fang)法(fa)意味(wei)著(zhe)，當編(bian)碼(ma)器通(tong)電時，可(ke)以立(li)即獲(huo)得(de)位(wei)置值，並(bing)且可(ke)以隨時通(tong)過後(hou)續(xu)信(xin)號處理電子(zi)電路(lu)讀取該位(wei)置值。無需移(yi)動(dong)軸即可(ke)執行參考(kao)點返回(hui)操(cao)作(zuo)。光柵(zha)尺測(ce)量法(fa)是(shi)指編碼(ma)器通(tong)電時就可(ke)立(li)即得(de)到(dao)位置值並(bing)隨(sui)時供後(hou)續(xu)信(xin)號處理電子(zi)電路(lu)讀取。單(dan)獨(du)的(de)增(zeng)量跟蹤(zong)信號通(tong)過細(xi)分(fen)生(sheng)成(cheng)位(wei)置值，還可(ke)以生(sheng)成(cheng)可(ke)選的(de)增(zeng)量信號。增量(liang)測(ce)量方(fang)法(fa)的(de)光柵(zha)由周期(qi)性(xing)的(de)光柵(zha)線組成(cheng)。通(tong)過計(ji)算從某個點開始的(de)增(zeng)量數來(lai)獲(huo)得(de)位(wei)置信息。由於必(bi)須使(shi)用參考(kao)點來(lai)確定(ding)位(wei)置值，因(yin)此在(zai)光柵(zha)尺或光柵(zha)帶上也(ye)刻有帶有參考(kao)點的(de)軌跡(ji)。由參考(kao)點確定(ding)的(de)光柵(zha)尺的(de)位(wei)置值可(ke)以準確(que)到(dao)壹(yi)個測(ce)量步(bu)驟。
絕(jue)對(dui)式光柵(zha)尺或編(bian)碼(ma)器的(de)測(ce)量標(biao)準是(shi)周期(qi)性(xing)光柵(zha)，這些光柵(zha)刻在(zai)玻璃(li)或鋼質基材(cai)上，用於長(chang)距離(li)測(ce)量的(de)光柵(zha)尺底座(zuo)是(shi)鋼帶。鍍金(jin)鋼帶上的(de)蝕(shi)刻線(xian)，典型(xing)柵(zha)距(ju)40μmMETALLUR：抗(kang)汙染鍍金金屬(shu)線，典(dian)型(xing)柵距20μmDIADUR：玻璃(li)基板(ban)上的(de)超(chao)硬(ying)鉻線(xian)（典型(xing)柵距20μm）或三維(wei)鉻(ge)線玻(bo)璃(li)基板(ban)上的(de)網(wang)格（典型的(de)光柵(zha)周期(qi)為(wei)8μm）SUPRADUR相(xiang)光柵(zha)：光學(xue)三維(wei)平(ping)面網(wang)格線，*的(de)防汙(wu)能力(li)，典型(xing)的(de)光柵(zha)周期(qi)不(bu)超(chao)過(guo)8μmOPTODUR相(xiang)光柵(zha)：光學(xue)三維(wei)平(ping)面網(wang)格線，超(chao)高(gao)反射(she)性(xing)能，典(dian)型的(de)光柵(zha)間距不(bu)超(chao)過(guo)2μm。
光柵(zha)尺是(shi)機(ji)床(chuang)高(gao)質(zhi)量(liang)，高(gao)精(jing)度(du)運動(dong)的(de)前(qian)提。此外，光柵(zha)尺的(de)出(chu)色動(dong)態性(xing)能還(hai)來(lai)自其運動(dong)部件重(zhong)量的(de)進壹(yi)步(bu)減輕(qing)。它廣泛(fan)用於精(jing)密(mi)機(ji)床(chuang)，電子(zi)零件和自動(dong)化(hua)機(ji)械系(xi)統的(de)生(sheng)產(chan)和加(jia)工(gong)設備中，尤其(qi)是(shi)在(zai)半導體和電子(zi)制造(zao)領(ling)域(yu)。光柵(zha)尺外殼(ke)中的(de)非(fei)接觸式光電掃描(miao)測(ce)量數(shu)據和讀取頭的(de)滾(gun)珠(zhu)導軌結構保(bao)證(zheng)了光柵(zha)尺的(de)使(shi)用壽命(ming)長(chang)。這種(zhong)封(feng)閉的(de)結構，特(te)殊(shu)的(de)掃描(miao)原(yuan)理以及壓縮(suo)空(kong)氣的(de)正(zheng)壓環(huan)境(jing)使(shi)線(xian)性(xing)光柵(zha)尺具(ju)有很強(qiang)的(de)抗(kang)汙染能力(li)，完善的(de)保(bao)護措(cuo)施可(ke)確保(bao)高(gao)度(du)抗(kang)電噪聲。
HA400系(xi)列(lie)絕(jue)對(dui)式光柵(zha)尺
HAVLICEKHA400是(shi)利(li)用光柵(zha)的(de)光學(xue)原理工(gong)作(zuo)的(de)測(ce)量反饋(kui)裝(zhuang)置。光柵(zha)尺經(jing)常(chang)應(ying)用於數(shu)控(kong)機(ji)床(chuang)的(de)閉環(huan)伺(si)服(fu)系(xi)統中(zhong)，可(ke)用作(zuo)直線(xian)位(wei)移(yi)或(huo)者(zhe)角(jiao)位移(yi)的(de)檢(jian)測(ce)。
HA100系(xi)列(lie)絕(jue)對(dui)式光柵(zha)尺
HA100系(xi)列(lie)可(ke)替換(huan)海德漢LC100系(xi)列(lie)，通(tong)用型結構、形(xing)式設計、讀數頭尺寸(cun)縮(suo)小(xiao)。通(tong)常應(ying)用於需要(yao)高(gao)精(jing)度(du)測(ce)量的(de)領(ling)域(yu)，如(ru)機(ji)床(chuang)加(jia)工(gong)、半(ban)導(dao)體制造、精密(mi)儀器等。
