敞開(kai)式光(guang)柵(zha)尺和開(kai)放式光(guang)柵(zha)尺怎麽(me)選(xuan)？

　　光(guang)柵(zha)尺的工作原理(li)基於(yu)莫爾條(tiao)紋(wen)效應(ying)，這(zhe)壹(yi)原理(li)涉及(ji)到(dao)光學(xue)幹涉和(he)光電(dian)轉(zhuan)換技(ji)術(shu)。

　　

　　1、光柵(zha)的發(fa)光和透射：光(guang)柵(zha)是由(you)壹系(xi)列平(ping)行(xing)的(de)條(tiao)紋(wen)組(zu)成的(de)線性(xing)光柵(zha)，這(zhe)些(xie)條(tiao)紋(wen)的寬(kuan)度(du)和(he)間距非常小，精度(du)可(ke)達(da)到(dao)亞微米級(ji)別(bie)。當光(guang)源(yuan)照(zhao)射到(dao)光柵(zha)上時(shi)，光柵(zha)的條(tiao)紋(wen)會發(fa)生透射和(he)反射，形成(cheng)特定(ding)的(de)光(guang)學(xue)線條(tiao)。

　　

　　2、莫(mo)爾條(tiao)紋(wen)的形成(cheng)：當指(zhi)示(shi)光(guang)柵(zha)（讀數(shu)頭(tou)中(zhong)的光柵(zha)）與(yu)標(biao)尺光柵(zha)（測量(liang)對(dui)象(xiang)上的(de)光(guang)柵(zha)）之間形成(cheng)壹個小角度(du)θ並(bing)相(xiang)對平行(xing)放(fang)置時(shi)，在光源(yuan)的(de)照射下(xia)，兩(liang)光柵(zha)尺刻面(mian)之間的線紋(wen)相(xiang)互交差，形成(cheng)明暗相(xiang)間的條(tiao)紋(wen)，即莫(mo)爾條(tiao)紋(wen)。莫爾條(tiao)紋(wen)的變(bian)化規律近(jin)似(si)正(zheng)余弦函(han)數(shu)，其(qi)周期(qi)數(shu)與(yu)光(guang)柵(zha)相(xiang)對位移(yi)的(de)柵(zha)距數(shu)同(tong)步。

　　

　　3、光(guang)學(xue)信(xin)號(hao)的檢(jian)測：光(guang)電檢(jian)測器(qi)（如光電二極管(guan)或(huo)雙晶(jing)電子掃描器等）將(jiang)莫爾條(tiao)紋(wen)的光(guang)信(xin)號(hao)轉(zhuan)化為電(dian)信(xin)號(hao)。當光(guang)學(xue)信(xin)號(hao)入(ru)射到(dao)光電(dian)檢(jian)測器(qi)上時(shi)，會產(chan)生電流，電(dian)流強(qiang)度(du)與(yu)光(guang)學(xue)信(xin)號(hao)的亮度(du)成(cheng)正(zheng)比。

　　

　　4、信(xin)號(hao)處(chu)理(li)和計量(liang)：將(jiang)光柵(zha)尺檢(jian)測到(dao)的電(dian)信(xin)號(hao)轉(zhuan)化為數(shu)值(zhi)信(xin)號(hao)，通(tong)常通(tong)過(guo)A/D轉(zhuan)換器(qi)將(jiang)模擬(ni)信(xin)號(hao)轉(zhuan)換為數(shu)字(zi)信(xin)號(hao)進行(xing)記錄和處(chu)理(li)。最終(zhong)，數(shu)值(zhi)信(xin)號(hao)經過(guo)處(chu)理(li)得(de)到(dao)物理(li)量(liang)的(de)數(shu)值(zhi)輸(shu)出(chu)。

　　

　　光柵(zha)尺是壹(yi)種(zhong)高精度(du)的(de)測(ce)量(liang)工具，廣泛(fan)應(ying)用(yong)於(yu)精密(mi)加(jia)工和檢(jian)測系(xi)統中(zhong)。其工作原理(li)基於(yu)莫爾條(tiao)紋(wen)效應(ying)，通(tong)過(guo)光電(dian)轉(zhuan)換技(ji)術(shu)和信(xin)號(hao)處(chu)理(li)技術(shu)實現(xian)非接(jie)觸式測(ce)量(liang)。

　　

　　1、敞開(kai)式光(guang)柵(zha)尺：這(zhe)是壹(yi)種(zhong)用(yong)於(yu)精確測量(liang)線(xian)性(xing)位移的(de)傳(chuan)感器，它(ta)通(tong)常由(you)壹個帶(dai)有刻度(du)的(de)光(guang)柵(zha)（標(biao)尺）和壹(yi)個讀取頭組(zu)成。這(zhe)種(zhong)類型(xing)的(de)光柵(zha)尺的特點是其(qi)讀數(shu)頭(tou)和標(biao)尺之間沒有物理(li)接(jie)觸，而(er)是通(tong)過(guo)光學(xue)原理(li)進行(xing)非接(jie)觸式的(de)測(ce)量(liang)。敞開(kai)式光(guang)柵(zha)尺因其高精度(du)、高(gao)分(fen)辨(bian)率(lv)以及(ji)良好(hao)的(de)抗幹擾性能而(er)廣泛(fan)應(ying)用(yong)於(yu)精密(mi)儀器(qi)、數(shu)控(kong)機(ji)床、自動化設備等領(ling)域(yu)。它(ta)們(men)可(ke)以在惡劣(lie)的(de)環境(jing)下(xia)穩(wen)定(ding)工作，並(bing)且維(wei)護簡(jian)單，使用(yong)壽命(ming)長(chang)。

　　

　　2、開(kai)放式光(guang)柵(zha)尺：這(zhe)同(tong)樣是壹(yi)種(zhong)基於(yu)光學(xue)原理(li)工作的(de)線(xian)性位(wei)移傳(chuan)感器，它(ta)的設計允許在更開(kai)放的(de)環境(jing)中(zhong)使用(yong)，例如在那些(xie)可(ke)能會受到(dao)灰(hui)塵、油汙(wu)或(huo)其他(ta)汙(wu)染物影(ying)響的(de)地(di)方。開(kai)放式光(guang)柵(zha)尺通(tong)常具有更強(qiang)的防護措(cuo)施來抵抗這(zhe)些(xie)外(wai)部因素的幹擾，比如特殊的(de)密(mi)封技術(shu)或(huo)者(zhe)更加堅(jian)固(gu)的外(wai)殼(ke)。這(zhe)使得(de)開(kai)放式光(guang)柵(zha)尺適合於(yu)工業(ye)環境(jing)中(zhong)的各(ge)種(zhong)應(ying)用(yong)，其中(zhong)可(ke)能包括暴露(lu)於(yu)機械(xie)磨(mo)損(sun)或(huo)化學(xue)物質(zhi)的(de)情(qing)況。與(yu)敞開(kai)式相(xiang)比，開(kai)放式的(de)設計提供(gong)了額(e)外的保護層(ceng)，確保即(ji)使在不太(tai)理(li)想(xiang)的(de)條(tiao)件(jian)下(xia)也能保持高性(xing)能。

　　

　　總之，無論是敞開(kai)式還是開(kai)放式光(guang)柵(zha)尺，選(xuan)擇(ze)時(shi)都(dou)需(xu)要(yao)考(kao)慮實際應(ying)用(yong)中(zhong)的環境(jing)條(tiao)件(jian)及精度(du)要(yao)求(qiu)等因素，以確保所選(xuan)產(chan)品(pin)能夠滿足(zu)特定(ding)場(chang)景(jing)下(xia)的(de)需求(qiu)。