光柵尺(chi)數顯表(biao)為微米級(ji)位(wei)移(yi)控制提供精準(zhun)的測(ce)量反饋(kui)
更(geng)新(xin)時(shi)間(jian):2025-09-16 點(dian)擊(ji)次(ci)數:495次
光柵尺(chi)數顯表(biao)是光柵尺(chi)的配(pei)套(tao)數字(zi)顯示(shi)裝置(zhi),通過(guo)接收(shou)光柵尺(chi)的光電信(xin)號,實(shi)現(xian)位(wei)移(yi)量的數(shu)字(zi)化顯示(shi)與(yu)信號(hao)輸出,憑(ping)借(jie)測量精(jing)度(du)高、響應速(su)度(du)快、信號穩定(ding)性強(qiang)的優(you)勢,廣(guang)泛(fan)應用(yong)於(yu)精密(mi)機床、電子(zi)制造(zao)、光學儀器等高(gao)精度(du)加工(gong)場(chang)景(jing),為(wei)微米級(ji)位(wei)移(yi)控制提供精準(zhun)的測(ce)量反饋(kui)。
在(zai)精(jing)密(mi)機床與(yu)數控(kong)加工(gong)領域(yu),光柵尺(chi)數顯表(biao)是高精(jing)度(du)加工(gong)的核(he)心(xin)反饋(kui)單元。數(shu)控車床、五(wu)軸加工(gong)中(zhong)心(xin)等精(jing)密(mi)設備(bei)需通過(guo)數(shu)顯表(biao)實時(shi)反饋(kui)刀(dao)具(ju)與(yu)工(gong)件(jian)的相(xiang)對(dui)位(wei)移(yi),實現(xian)閉環(huan)控(kong)制。例(li)如在(zai)精(jing)密(mi)齒輪加工(gong)中(zhong),數(shu)顯表(biao)配合(he)高精(jing)度(du)光柵尺(chi),實時(shi)顯示(shi)滾刀的進(jin)給位(wei)移(yi)與(yu)分度(du)精度(du),將齒輪齒形誤差(cha)控(kong)制在(zai)3μm以(yi)內(nei);在(zai)模(mo)具(ju)電火(huo)花加工(gong)中(zhong),數(shu)顯表(biao)監控(kong)電極(ji)的進(jin)給速度(du),確保放(fang)電間(jian)隙(xi)穩(wen)定(ding)在(zai)5-10μm,提(ti)升(sheng)模(mo)具(ju)表(biao)面粗(cu)糙(cao)度(du)。
電子(zi)與(yu)半導(dao)體制(zhi)造(zao)領域(yu),該數顯表(biao)是微型(xing)器件(jian)加工(gong)的關(guan)鍵(jian)保障(zhang)。半導(dao)體晶(jing)圓切(qie)割(ge)機、PCB鉆孔機等設備(bei)需數顯表(biao)實現(xian)微米級(ji)位(wei)移(yi)監測:在(zai)晶(jing)圓切(qie)割(ge)中,數顯表(biao)控制(zhi)切(qie)割(ge)刀的走(zou)刀路徑(jing),確保芯片尺(chi)寸偏(pian)差(cha)≤0.01mm;在(zai)PCB微孔加工(gong)中(zhong),數(shu)顯表(biao)反饋(kui)鉆(zuan)頭(tou)的軸(zhou)向位(wei)移(yi),保證(zheng)孔位(wei)精(jing)度(du)與(yu)孔深壹致性。在(zai)電子(zi)連接器模(mo)具(ju)加工(gong)中(zhong),數(shu)顯表(biao)配合(he)微型(xing)光柵尺(chi),測量模(mo)具(ju)鑲(xiang)件的配(pei)合(he)間(jian)隙(xi),確(que)保連接器插(cha)拔(ba)性能(neng)。

光學與(yu)精密(mi)儀器(qi)領域(yu),光柵尺(chi)數顯表(biao)同樣(yang)發(fa)揮(hui)重(zhong)要作(zuo)用(yong)。光學鏡片磨床、激(ji)光幹涉(she)儀(yi)等(deng)設備(bei)的調試(shi)與(yu)校(xiao)準(zhun),需數顯表(biao)提供高精度(du)位(wei)移(yi)參(can)考(kao):在(zai)鏡片拋(pao)光中,數顯表(biao)監控(kong)拋(pao)光頭(tou)的壓(ya)力(li)位(wei)移(yi),保證(zheng)鏡片面形(xing)精(jing)度(du);在(zai)儀(yi)器(qi)校(xiao)準(zhun)中(zhong),數顯表(biao)配合(he)標準(zhun)光柵尺(chi),校(xiao)準(zhun)儀(yi)器的測(ce)量誤差(cha)。其支(zhi)持數據(ju)輸出功(gong)能(neng),可(ke)將位(wei)移(yi)數據傳輸至計(ji)算(suan)機進行分析(xi),生(sheng)成(cheng)誤差(cha)曲(qu)線(xian),為(wei)設備(bei)精度(du)優化提供依據。在(zai)醫(yi)療設備(bei)制造(zao)中,如CT機旋轉(zhuan)軸的加工(gong),數(shu)顯表(biao)控制(zhi)軸系(xi)的徑(jing)向跳動≤0.002mm,確保CT成(cheng)像(xiang)清(qing)晰度(du)。
此外,在(zai)科(ke)研(yan)實(shi)驗中,光柵尺(chi)數顯表(biao)常用(yong)於(yu)材料(liao)拉伸(shen)試驗機、精密(mi)位(wei)移(yi)平臺(tai)的位(wei)移(yi)測量,為(wei)力(li)學性能(neng)測(ce)試(shi)、微觀觀測(ce)提供精準(zhun)的位(wei)移(yi)數據,助力科(ke)研(yan)成(cheng)果(guo)的精(jing)準(zhun)驗證(zheng)。